二硒化鉿晶體（百分之99.995）HfSe2

簡要描述：二硒化鉿晶體 HfSe2（Hafnium Selenide）
晶體尺寸：~10毫米
電學性能：半導體
晶體結構：六邊形
晶胞參數：a = b = 0.3745 nm, c = 0.6160 nm, α = β = 90°, γ = 120°
晶體類型：合成
晶體純度：＞99.995%

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更新時間：2024-06-04
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二硒化鉿晶體 HfSe2(Hafnium Selenide)
晶體尺寸：~10毫米
電學性能：半導體
晶體結構：六邊形
晶胞參數：a = b = 0.3745 nm, c = 0.6160 nm, α = β = 90°, γ = 120°
晶體類型：合成
晶體純度：＞99.995%

X-ray diffraction on a Hafnium Diselenide single crystal aligned along the (001) plane. XRD was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker. The 4 XRD peaks correspond, from left to right, to (00l) with l = 1, 3, 4, 5

Powder X-ray diffraction (XRD) of a single crystal HfSe2. X-ray diffraction was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker.

Stoichiometric analysis of a single crystal HfSe2 by Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX).

Raman spectrum of a single crystal HfSe2. Measurement was performed with a 785 nm Raman system at room temperature.

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